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AI算法驱动的高精度半导体参数测试仪助力中国科研

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AI算法驱动的高精度半导体参数测试仪助力中国科研

发布日期:2019-07-04 作者: 点击:

转向参数测试仪

清华大学微电子学院王燕教授购买了三套FS-ProTM转向参数测试仪用于科研和教学。她说:“国内半导体微电子产业的不断发展对微电子专业人士提出了新的要求。对于微电子学而言,在教学方面,学生需要能够充分了解半导体器件测量到建模和仿真的全过程。

转向参数测试仪设备基本上是进口设备,体积大,价格昂贵,不适合微电子教学。在FS-ProTM出现后,博达微技术引起了极大的兴趣。经过调查和试验,我们发现测量设备在测量分辨率,精度和CV带宽方面达到了进口设备的水平。该设备配备了Boda Micro的建模旗舰产品,转向参数测试仪提取软件MeQLabTM,实现了教学中建模和仿真的完整测量过程,并且更接近应用程序半导体产业在教学中的作用。同时,转向参数测试仪设备成本与进口设备相比,它具有很大的优势,而且体积非常小。

因此,清华大学微电子购买三套micro-Bardon FS-Pro™作为微电子教学设备,极大地帮助我们培养符合半导体行业需求的应用型人才。 “

本文网址:http://www.wdtc.net.cn/news/450.html

关键词:转向参数测试仪

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